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本发明提供了一种电子器件双轨检测设备中的电子器件分类方法，该方法包括：分别向形成在旋转的玻璃板上的多个轨道中调整电子器件的步骤；获得位于上述各个轨道中的电子器件的各个面的影像的步骤；微型机接收上述影像，将位于每个轨道中的电子器件分为不合格品...
该专利属于ＲＴＳ股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过ＲＴＳ股份有限公司授权不得商用。

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