下载氧化镓薄膜晶体生长方法的技术资料

文档序号:26306383

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本发明实施例涉及半导体晶体生长技术,公开了一种氧化镓薄膜晶体生长方法,用载气将含镓源的金属有机化合物和含氧物质的气态源分别通入MOCVD设备中,在低温下对衬底进行一层低温氧化镓材料的生长;关闭金属有机化合物源,打开高温加热源,进行高温快速退...
该专利属于深圳第三代半导体研究院所有,仅供学习研究参考,未经过深圳第三代半导体研究院授权不得商用。

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