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一种条式测试方法包括下列步骤：提供一整批条状，其中该整批条状包括复数个半导体装置，其具有复数个引脚；提供一测试座以及一基座，该测试座具有复数个探针组；将该整批条状加载到到该基座上；将该等探针组同时分别电性接触该等半导体装置的该等引脚，以进行...
该专利属于日月光半导体制造股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过日月光半导体制造股份有限公司授权不得商用。

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