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本发明公开了一种多层薄膜材料空间充放电效应模拟试验方法，针对热控等薄膜材料中导电层/介质层相结合的结构特点，综合考虑了薄膜材料导电层对空间低能电子屏蔽效应、以及高能电子强穿透特性，采用蒙特卡洛方法计算获得介质层的电子沉积最小能量和最大能量值...
该专利属于许昌学院;北京东方计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过许昌学院;北京东方计量测试研究所授权不得商用。

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