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本申请适用于光学分析技术领域，提供了一种光学常数测量方法与光学常数测量设备，光学常数测量方法包括以下步骤：获得包括S偏振态的探测光；将探测光按照第一预设入射角照射设置于基底上的待检测的薄膜，探测光照射基底后，获取探测光的偏振方向与入射面的夹...
该专利属于深圳信息职业技术学院所有，仅供学习研究参考，未经过深圳信息职业技术学院授权不得商用。

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