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本发明公开了一种测量微小电容之间差异性的电路，第一组电路包括串联的电容Ｃ１和电容Ｃ２，电容Ｃ１一端连接输入电压，电容Ｃ２另一端接地，电容Ｃ１与电容Ｃ２连接处与晶体管栅极连接，晶体管漏极接地，源极连接电流源流出端，该连接处为输出电压，电流源另...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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