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一种用于快速精确检测电磁继电器的衔铁超行程的方法，其特征在于：是在电磁继电器线圈上施加一个激励电压，用触点监测电路获取电磁继电器的触点接通情况，触点接通的信号送给微处理器ＭＣＵ，由微处理器ＭＣＵ分析判断触点接通的时间并将该时间记为ｔ１；与此...
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