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本发明为一种自动化测量一发光二极管的测试设备及方法。本发明的自动化测试设备包括一测试治具、一待测物设置处、一测量装置与一电源供应装置。测试治具包括感光组件。待测物设置处用来设置要测的发光二极管，并且待测物设置处与该电源供应装置电性连接，以提...该专利属于纬创资通股份有限公司;纬创资通(昆山)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过纬创资通股份有限公司;纬创资通(昆山)有限公司授权不得商用。