下载忆阻器及其制备方法的技术资料

文档序号:26261673

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本发明提供了一种忆阻器及其制备方法,包括自下而上依次设置的衬底、底电极、阻变层和顶电极,所述阻变层包括介质层和旋涂在介质层上方的量子点材料膜,所述量子点材料膜由AgInZnS材料制备而成,所述介质层的底部与所述底电极的顶部接触,所述量子点材...
该专利属于南京邮电大学所有,仅供学习研究参考,未经过南京邮电大学授权不得商用。

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