专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
西安电子科技大学
>
基于远场平面扫描的毫米波辐射器近场辐射剂量测量方法技术
>技术资料下载
下载基于远场平面扫描的毫米波辐射器近场辐射剂量测量方法的技术资料
文档序号:26258240
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种基于远场平面扫描的毫米波辐射器近场辐射剂量测量方法,主要解决现有毫米波辐射器近场辐射剂量测量的精度低和效率低的问题。本发明测量并计算位于远场的扫描平面上的电场复振幅的分布,通过傅里叶逆变换,将远场的电场复振幅变换为平面波谱,将近场剂量空...
该专利属于西安电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安电子科技大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。