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本发明涉及利用输出与分析用具（２）的输出相关的物理量的二重积分电路（１１），进行试样分析的技术。在本发明中，从向二重积分电路（１１）中输入分析用具的输出开始到从二重积分电路（１１）开始输出物理量之间的时间间隔，在确认向分析用具（２）供给试样...
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