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在利用光学相干层析成像系统对被测样品进行成像时，样品臂与参考臂的色散失配会影响系统分辨率，因此进行深度分辨的色散补偿是非常重要的。此时需要将样品不同深度处的干涉信号从A‑line信号中截取再做傅里叶变换(FFT)，通过对截取所用的矩形窗函数...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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