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本发明公开了一种涂层－基体界面激光预处理质量的无损检测方法，其具体步骤为：用激光束对基体表面进行微熔处理，建立指定激光工艺条件下的基体表面微熔状态的标准图谱以及基体表面微熔区宽度与激光硬化区深度之关系，不同工件激光处理效果及其一致性通过与标...
该专利属于中国科学院力学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院力学研究所授权不得商用。

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