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一种具有内部限位环的硅通孔互连结构及其形成方法技术
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文档序号:26176005
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一种具有内部限位环的硅通孔互连结构及其形成方法,所述硅通孔互连结构包括:衬底,所述衬底上开设有至少一个通孔;第一绝缘层,所述第一绝缘层设置在所述衬底的上端面和下端面上;第二绝缘层,所述第二绝缘层设置在所述通孔的内壁上;种子层,所述种子层设置...
该专利属于中北大学所有,仅供学习研究参考,未经过中北大学授权不得商用。
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