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本发明公开了一种待测试产品的序列化处理方法，该序列化处理方法包括以下步骤：对待测试产品的各个功能点进行产线测试；对通过产线测试的待测试产品，经由待测试产品的存储器的信息检查其是否已经过序列化操作；针对未经过序列化操作的待测试产品，读取其主处...
该专利属于上海仪电数字技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海仪电数字技术股份有限公司授权不得商用。

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