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本发明属于颗粒粒度测量技术领域，涉及一种粒度测量设备及方法，包括：样品池，与样品池连通的样品循环系统；光阑、准直透镜、空间滤波器和激光器依次设置在所述样品池的一侧；傅立叶透镜和光电探测器依次设置在所述样品池的另一侧；所述激光器射出的入射光经...
该专利属于辽东学院所有，仅供学习研究参考，未经过辽东学院授权不得商用。

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