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投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质技术方案
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文档序号:26167186
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本申请公开了一种投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质,所述投影系统照度测量方法包括:获取待测量投影屏的几何参数,并基于所述几何参数,确定初始测量点坐标,进而基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标,测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。...
该专利属于歌尔股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过歌尔股份有限公司授权不得商用。
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