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该装置是针对各向异性的晶体材料需进行抗弯曲强度测量而提出来的．该装置包括一个特殊设计的样品架，一套由下而上连续加载测力机构和位移传感器．它可以通过调节样品架上２４个螺钉位置，使单晶片与样品架呈多点式接触，以适应（１００）、（１１１）等晶向材...
该专利属于复旦大学所有，仅供学习研究参考，未经过复旦大学授权不得商用。

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