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一种供检测是否存在有标记可检测标记的第一反配位基—配位基产物的均质方法，该产物是在容纳于小室中的液体组成物内的基质装置上生成的；该方法包括下列各步骤（ａ）提供涂覆有第二反配位基的载体粒子作为该标记，以可检测标记的第一反配位基—配位基产物的基...
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