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目前国内外所采用的半导体器件及集成电路扁平封装外引线耐应力腐蚀检测方法及装置虽然各有特点，但均存在试验周期长、效率低、与外引线实际使用状态相去较远及难以定量之不足。本发明采用使外引线在腐蚀介质中发生弯曲变形的加载缩短了试验周期；在相同试验条...
该专利属于北京科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京科技大学授权不得商用。

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