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用于定量测定存在于一个试样中的材料之方法和装置制造方法及图纸
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下载用于定量测定存在于一个试样中的材料之方法和装置的技术资料
文档序号:2602771
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用于定量测定存在于一个试样中的材料之方法,该材料作为亚微米粒子被具有一种光电发射能力的物质覆盖着,其特征是,试样的材料通过热处理使之达到光电发射状态,在此状态下将进行光电发射测量,并根据该测量中获得的试样中材料成分的测量信号,借助于一个对比...
该专利属于于利奇研究中心有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过于利奇研究中心有限公司授权不得商用。
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