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本发明涉及一种放射性粒子外观质量检测与分选的装置及方法，装置包括用于供应放射性粒子的振动系统，用于判断振动系统中放射性粒子信息的感应系统，设置有升降系统的擒纵系统，用于放射性粒子外观质量检测的检测系统，用于收集合格品的第一卸料台以及用于收集...
该专利属于原子高科股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过原子高科股份有限公司授权不得商用。

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