温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

提供一种粒子尺寸测定装置及测定方法，能够测定更小的粒子尺寸。用于测定粒子的尺寸的粒子尺寸测定装置(1)具备：第一光源(2)，其向包含粒子的试料(9)照射平行光(10)；第一摄像装置(4)，其配置为隔着试料而与第一光源大致对置，用于拍摄试料；...
该专利属于株式会社日立制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社日立制作所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。