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用于确定光学部件的色散的设备与方法技术
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下载用于确定光学部件的色散的设备与方法的技术资料
文档序号:2592259
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本发明的目的在于使以改进的方式确定样本(4)的色散成为可能。为此目的,在干涉仪(10)中利用辐射源(1)的光对样本(4)进行射线照射。随后的偏振光计(50)测量干涉辐射的功率变化及偏振变化。在随后的评价单元(7)中,可以确定与波长相关的色散...
该专利属于特拉波斯公司所有,仅供学习研究参考,未经过特拉波斯公司授权不得商用。
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