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本发明公开了一种测量单个线形纳米材料杨氏模量的方法，该方法利用测量装置测量待测单个线形纳米材料样品的特征尺寸；将待测样品固定在样品支撑装置中两个相对设置的针状电极中的一个电极上；对样品支撑装置上的两个针状电极施加交变电信号使样品产生振动，改...
该专利属于中国科学院物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院物理研究所授权不得商用。

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