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荧光计可用于测量超低浓度的发荧光物质，诸如穿过反渗透膜进入渗透物流的超低浓度的荧光示踪剂。在一些实例中，可以通过基于荧光计测得的荧光反应，重置一些而非所有用于测定所述渗透物中的荧光示踪剂的浓度的校准参数来重新校准所述荧光计。例如，可以为所述...
该专利属于埃科莱布美国股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过埃科莱布美国股份有限公司授权不得商用。

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