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测定具有对称轴（Ｘ）容器（４）的颈环（３）上的表面缺陷和／或材料短缺的光学方法，该方法包括以下步骤：　　　　■采用入射光束照射容器（４）颈环（３）的表面（ｓ），　　　　■通过线扫描摄像机（６）收集由容器颈环反射的光束从而确定表面缺陷和／或材...
该专利属于蒂阿马公司所有，仅供学习研究参考，未经过蒂阿马公司授权不得商用。

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