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本发明的课题提供一种荧光Ｘ射线分析装置，其采用单一检测器，形成简单、低价格的结构，同时，可在较宽的波长范围内以充分的灵敏度，测定波长不同的多条２次Ｘ射线的相应强度。在包括Ｘ射线源（３）、发散细缝（５）、分光元件（７）、单一检测器（９）的荧光...
该专利属于理学电机工业株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过理学电机工业株式会社授权不得商用。

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