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本发明之目的在于提供能极简单地分析氟化物中的杂质及色中心的氟化物中的杂质及色中心分析方法。并提供可在形成最终单结晶前对清除剂的添加效果进行评价的氟化物中的杂质及色中心分析方法。以Ｘ射线照射得到的熔融原料，通过测定该照射前后的透光率来检测形成...
该专利属于斯特拉化学株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过斯特拉化学株式会社授权不得商用。

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