下载测量薄膜的方法的技术资料

文档序号:2587393

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本发明提供一种新的以激光为基础的测量非常薄的固体膜(22)的方法,该方法以在与膜(22)接触的气体或液体介质中产生折射率光栅为基础。在主要实施例中,气体或液体介质中被激发的声波(25)调节被衍射的探测束的强度,导致和在固体样品中激发的声波模...
该专利属于皇家飞利浦电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过皇家飞利浦电子股份有限公司授权不得商用。

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