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本发明提供一种可产生明场或宽场荧光光切片的方法，即断层成像的技术和方法。该方法可通过普通光学显微镜的白光或宽场紫外光作光源，获得显微样品清晰的断层图像，所得到的断层图像可以是全色真彩图像，也可以是荧光图像，且无须在Ｘ－Ｙ平面上作扫描，而可一...
该专利属于暨南大学所有，仅供学习研究参考，未经过暨南大学授权不得商用。

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