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一种薄层微晶介质材料的光电子特性检测方法及装置，属于测量技术领域。所要解决的技术问题是提供具有较高灵敏度和分辨率、利用微波无接触探测的一种检测薄层微晶介质材料光电子特性方法及其装置。其技术方案是：微波源发出两路微波，一路作为参考信号等幅输入...
该专利属于河北大学所有，仅供学习研究参考，未经过河北大学授权不得商用。

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