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一种用于核径迹检测的核成像分析仪制造技术
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下载一种用于核径迹检测的核成像分析仪的技术资料
文档序号:2581369
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本发明提供了一种用于检测核径迹双卡防伪标识的核成像分析仪,其特征在于:以载物台中心为圆心设置分析盘,采用核成像技术为引导对原子核径迹立体分布进行断层扫描,从而可确切鉴别核径迹载体真伪,为核径迹系列产品必备的检测设备。...
该专利属于孟武;马振东所有,仅供学习研究参考,未经过孟武;马振东授权不得商用。
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