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本发明提出了一种分析微观元素的设备（ＤＡ），这种设备包括：第一，需分析的微观元素的测量空间（ＣＭ）；第二，至少一个提供在测量空间（ＣＭ）内联合在一起的射线的光源（Ｓ），所述射线具有至少两个不同的分析波长，用来与测量空间（ＣＭ）内的微观元素交...
该专利属于奥里巴ABX股份有限公司（简单形式）所有，仅供学习研究参考，未经过奥里巴ABX股份有限公司（简单形式）授权不得商用。

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