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一种基于光寻址电位传感器检测GPC3的方法：将LAPS芯片、光源驱动电路、信号放大电路、和LabVIEW平台组成了LAPS实时测试系统。设计合成了AuNPs/PEI‑rGO复合材料；将AuNPs/PEI‑rGO和GPC3‑Apt修饰在LAP...
该专利属于桂林电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过桂林电子科技大学授权不得商用。

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