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用于检查光学设备的方法和系统技术方案
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下载用于检查光学设备的方法和系统的技术资料
文档序号:2567153
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一种检查光学设备的方法包括(a)利用光照明所述光学设备及环境背景,其中所述光包括第一波长带和第二波长带,其中所述第一波长带和所述第二波长带是不同的波长,以及其中所述第一波长带具有第一强度且所述第二波长带具有第二强度;(b)将所述光透射通过所...
该专利属于庄臣及庄臣视力保护公司所有,仅供学习研究参考,未经过庄臣及庄臣视力保护公司授权不得商用。
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