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本发明公开了光学属性检测方法与系统、光学属性检测控制设备，其中，光学属性检测方法包括：接收检测请求，其中携带有检测参数，包括待测屏尺寸与待测点数量；从数据库中获取与检测参数相应的待测点坐标，并控制视频信号发生器向待测显示设备或背光源输入视频...
该专利属于京东方科技集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司授权不得商用。

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