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一种提高温度补偿晶振稳定度的测试方法技术
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文档序号:25642765
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本发明涉及晶体振荡器技术领域,具体涉及一种提高温度补偿晶振稳定度的测试方法,包括设置预制参考频率f0接入数字频率比较电路;将需要补偿的VCXO的频率连接数字频率比较器;补偿VCXO的单片机通过ADC采集锁相环输出的比较控制电压和温度传感器的...
该专利属于成都恒晶科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过成都恒晶科技有限公司授权不得商用。
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