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本申请涉及电离层观测的相关技术领域，尤其涉及一种电离层三维展示方法和装置。其中，电离层三维展示方法包括：获取检测到的电离层数据；对所述电离层数据进行拆分；基于所述拆分的电离层数据和待展示区域，确定插值点的位置；确定所述插值点的电子密度数据：...
该专利属于北京天工科仪空间技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京天工科仪空间技术有限公司授权不得商用。

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