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半导体压力传感器及其制造方法技术
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文档序号:2560314
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以SiO↓[2]层(2)为刻蚀阻挡层,一直到SiO↓[2]层(2)为止,刻蚀对应于n型单晶Si层(1)的压力敏感区域的部分。用刻蚀法除去已露了出来的SiO↓[2]层(2)。刻蚀规定的量的n型单晶Si层(3)压力敏感区域,以形成膜片(4)。借...
该专利属于株式会社山武所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社山武授权不得商用。
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