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本申请实施例公开了一种物质分析方法、装置和静电离子阱质量分析器，静电离子阱质量分析器包括接口装置和质量分析器，所述方法包括：在待检测物的离子进入接口装置，且第一外部导电体加载有第一电压以及第一内部导电体加载有第二电压的过程中，在第一外部导电...
该专利属于中国科学院地质与地球物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院地质与地球物理研究所授权不得商用。

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