下载晶体管及其形成方法的技术资料

文档序号:25552626

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本发明提供了一种晶体管及其形成方法、半导体器件。晶体管中的栅极介质层具有上层部和下层部,并且上层部为叠层设置,从而可以在不改变下层部的厚度的基础上,增加上层部的厚度。如此,即能够在维持晶体管的性能的基础上,改善栅极感应漏电流(GIDL)现象...
该专利属于福建省晋华集成电路有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过福建省晋华集成电路有限公司授权不得商用。

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