温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供了一种晶体管及其形成方法、半导体器件。晶体管中的栅极介质层具有上层部和下层部,并且上层部为叠层设置,从而可以在不改变下层部的厚度的基础上,增加上层部的厚度。如此,即能够在维持晶体管的性能的基础上,改善栅极感应漏电流(GIDL)现象...该专利属于福建省晋华集成电路有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过福建省晋华集成电路有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供了一种晶体管及其形成方法、半导体器件。晶体管中的栅极介质层具有上层部和下层部,并且上层部为叠层设置,从而可以在不改变下层部的厚度的基础上,增加上层部的厚度。如此,即能够在维持晶体管的性能的基础上,改善栅极感应漏电流(GIDL)现象...