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本发明提供一种温度测试治具，其适用于固定若干探头，以测试一被测物上若干被测点处的温度；该温度测试治具包括一基板，该基板上设有若干穿孔；这些穿孔内分别穿设有若干支座，且这些支座分别包括一套轴，这些套轴的端部分别设有一限位部，这些限位部的顶部分...
该专利属于汉达精密电子（昆山）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过汉达精密电子（昆山）有限公司授权不得商用。

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