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一种导数场的测量方法，是采用图像处理的方法。首先采用双光束干涉测量光路在被测物体变形前后各拍一幅干涉图像，将两幅干涉图像相减，得到离面变形条纹场。由离面变形条纹场测得被测物体实际变形量，再根据条纹场的数学表达式得出离面变形。依据条纹场的拉普...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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