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本发明公开了一种有序孔阵列透射式波长计及其测量方法。波长计为平行光源（１）的入射角与由透明衬底（２）和其孔阵列周期为２００ｎｍ～２０μｍ的有序孔阵列（３）构成的半透镜相垂直，半透镜或平面镜位于移动台上，平面镜为位于透明衬底（２）的附有有序孔...该专利属于中国科学院合肥物质科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院合肥物质科学研究院授权不得商用。
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本发明公开了一种有序孔阵列透射式波长计及其测量方法。波长计为平行光源（１）的入射角与由透明衬底（２）和其孔阵列周期为２００ｎｍ～２０μｍ的有序孔阵列（３）构成的半透镜相垂直，半透镜或平面镜位于移动台上，平面镜为位于透明衬底（２）的附有有序孔...