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一种用于叶栅表面性能测量的多坐标测量支架制造技术
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下载一种用于叶栅表面性能测量的多坐标测量支架的技术资料
文档序号:25476809
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本发明公开了一种用于叶栅表面性能测量的多坐标测量支架,包括底座,底座包括底座本体,移动滑块设置在底座本体中,丝杠及定位杆分别穿设在移动滑块的一端;丝杠与定位杆相互平行,且与叶栅的叶片叶展方向一致,丝杠驱动机构的输出端与丝杠连接;测量滑块包括...
该专利属于西安建筑科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安建筑科技大学授权不得商用。
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