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本发明公开了一种基于门控递归单元神经网络的电子器件剩余寿命预测方法，包括：获得电子器件在相同条件下的多组老化数据；对多组老化数据进行预处理；根据预处理后的老化数据以及电子器件失效机理获得失效变量；根据预处理后的老化数据建立门控递归单元神经网...
该专利属于北京锐达芯集成电路设计有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京锐达芯集成电路设计有限责任公司授权不得商用。

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