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本发明公开了一种融合前景紧凑特性和多环境信息的绝缘子缺陷检测方法，首先对采集的原始绝缘子图像用超像素特征描述指定区域位置的特征信息，然后采用模块化方法提取得到绝缘子粗略显著区域，同时剔除绝缘子粗略显著区域部分背景噪声，最后采用特征紧凑性衡量...
该专利属于西安工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安工程大学授权不得商用。

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