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本发明公开了一种基于采样函数的平行平板光学参数的测量方法，首先在菲索型波长移相干涉仪中进行移相采样，分别得到放置待测平行平板和空腔下的干涉图；其次，根据实际目标要求得到移相算法的特征图并写出其特征多项式，然后利用Taylor公式展开得到算法...
该专利属于南京理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京理工大学授权不得商用。

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