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本发明公开一种多光谱辐射测温方法及系统，涉及热辐射测温和热辐射特性测量技术领域。该方法包括：利用探测器装置得到测量温度；利用多光谱测温原理确定的测量温度、被测目标的真实温度和被测目标的光谱发射率之间的关系确定全局优化函数；初始化真实温度和光...
该专利属于太原理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过太原理工大学授权不得商用。

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